Publication de Sven Tengeler 2017
Publié le 11 septembre 2017
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Communiqué
du 7 juillet 2017 au 14 juillet 2017
Le papier "(001) 3C SiC/Ni contact interface: In situ XPS observation of annealing induced Ni2Si formation and the resulting barrier height changes" a été publié dans Applied Surface Science
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mise à jour le 16 octobre 2019