SECOM Integrated Correlative Light and Electron Microscopy
Mr Sander Den Hoedt & Lennard Voortman (Société Delmic, Delft, Netherlands)
Bridging the gap : integrated light and electron microscopy
Mr Christopher Peddie (CRUK, London)
Correlative microscopy on Tokuyasu prepared sample using the FEI Maps software for the correlation of LM images and the FEI SEM.
Mr Bruno Humbel (EMF UNIL, Lausanne)
Infos lieu
Lors de l'atélier sur la Microscopie Corrélative Intégrée - iLSEM, 3 séminaires seront proposés de 9h à 12 hG-INP Phelma Polygone - Amphithéatre P015