L'AFM est un microscope à sonde locale qui permet d'observer la topographie des surfaces.
Le principe consiste à balayer la surface d'un échantillon avec une pointe (la sonde) et détecter les interactions entre cette pointe et la surface. La résolution latérale est de l'ordre du nanomètre et la résolution spatiale (en z) de l'ordre du dixième de nanomètre.
Les évolutions techniques des AFM permettent de réaliser la cartographie de différentes propriétés : mécanique, électrostatique et magnétique.
Le principe consiste à balayer la surface d'un échantillon avec une pointe (la sonde) et détecter les interactions entre cette pointe et la surface. La résolution latérale est de l'ordre du nanomètre et la résolution spatiale (en z) de l'ordre du dixième de nanomètre.
Les évolutions techniques des AFM permettent de réaliser la cartographie de différentes propriétés : mécanique, électrostatique et magnétique.
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Voir aussi
Savoir-faires du LMGP
- topographie de de surface d'échantillons massifs et de couches minces,
- topographie de surface, des propriétés mécaniques, électriques et magnétiques de cellules et de milieux biologiques liquides.
Equipement du laboratoire LMGP
AFM Digital Instruments Dimension 3100 dédié aux échantillons massifs et couches minces
- pointes en silicium ou nitrure de silicium,
- tête pour " mode contact ", « mode tapping » ou « mode MFM »,
- zone explorée : 70 x 70 µm2 maximum,
- taille échantillon MAXIMUM : diamètre 10 mm, épaisseur 3 mm,
- taille image MAXIMUM : 512 pixels x 512 pixels
Images typiques : Spirale de croissance autour d'une super-dislocation vis de SiC monocristallin; 70 x70µm²; hauteur des marches : 40 nm (à gauche); croissance de différentes couches d'oxyde; 30 x 30 µm²; hauteur des marches : 100 nm.(à droite)