La diffraction des rayons X permet une analyse qualitative de composés purs ou de mélanges, complément indispensable de l’analyse chimique élémentaire qui permet de préciser quels sont les atomes contenus dans le matériau. Des expériences non-destructives, peuvent être réalisées à différentes températures, sous atmosphère contrôlée, sur différents type d'échantillons.
Types d'échantillon analysés
monocristal,
couches minces,
échantillon cristallin massif ou en poudre (metal, metallo-organique, ...),
particules cristallisées dispersées dans un liquide.
géométrie faisceau parallèle avec miroir parabolique 1D, platine X, Y et Z et plateau aspirant pour maintenir les échantillons,
Diffractomètre SIEMENS D5000 (au Cuivre), goniomètre 4 cercles avec détecteur ponctuel dédié à l'étude des textures cristallographiques et des contraintes résiduelles,
Générateur Philips PW1730 (au Tungstène) équipé d'un montage de Laue (réflexion et transmission) pour l'orientation de monocristaux
Accès à cet équipement
Le matériel de diffraction du laboratoire fait partie du CMTC, plateforme de caractérisation des matériaux de Grenoble INP. Le CMTC est prestataire de services pour les secteurs public et privé.
Logiciels d'exploitation
Diffrac-Plus (Eva, Pdf Maint, Xch), Diffrac.EVA, Tex Eval ver 2.2, Stress ver 1.04, Topas ver 4.2,
XRD Commander (2.4.1 et 2.6.1) pour l'acquisition des données,
> lmgp_equipement > CARAC
monocristal,
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