Formation XRD - 4-7 Avril 2016

Un mélange de théorie, de pratique et de tutoriels sur l'utilisation de : i) la réflectométrie X pour obtenir des informations sur l'épaisseur, la rugosité et la densité des films; ii) la diffraction en incidence rasante pour déterminer la microstructure, les contraintes et la nature des phases.
Organisé sur une base annuelle, en collaboration avec l'INSTN.
Les inscriptions sont ouvertes